| MINI Probe Station zum Testen von bis zu 100 mm Wafer. Mikroskop, Illumination, Positionierer, Prüfspitzen und Halter nicht im Lieferumfang.
Diese Probe Station ist geeignet für akademische Forschung in einem Universitätslabor oder für Test und Entwicklung auf beschränktem Raum und mit geringem finanziellen Aufwand.
Trotz kompakter Bauweise ist die Funktionsfähigkeit im Vergleich zu größeren Probe Stations kaum geringer.
Herausragende Eigenschaften:
Kompakt, 320 weit x 320 tief x 400 mm hoch (wenn mit Mikroskop des Herstellers ausgestattet).
Nur 15 kg Gewicht
Attraktiver Preis
Ideal für kleine Wafer, 100 mm oder weniger. Durch Umstöpselung der Vakuumanschlüsse können auch 76 und 51 mm Wafer sowie IC's sicher festgehalten werden.
Chuck Stage, Y und Y Richtung 75 mm fein und spielfrei justierbar mit Schraubspindeln, von vorne erreichbar
Chuck Theta Winkel justierbar von 0 bis 30º
Erlaubt Plazierung von bis zu 6 Positionierern |
